Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

(Autor)

Buch | Softcover
IX, 135 Seiten
2012 | 2012
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH (Verlag)
978-3-8348-2494-3 (ISBN)

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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen - Peter Baumann
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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

Die Zielgruppen
Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten
Ingenieure und Physiker in der Praxis
Der Autor

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.

Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.

Erscheint lt. Verlag 29.9.2012
Zusatzinfo IX, 135 S. 153 Abb.
Verlagsort Wiesbaden
Sprache deutsch
Maße 168 x 240 mm
Gewicht 247 g
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte Bipolartransistor • Feldeffekttransistor • Halbleiterbauelemente • Halbleiterdiode • OrCAD-PSPICE • PSPICE • Sperrschickt-Feldeffekttransistor • SPICE-Modellparameter
ISBN-10 3-8348-2494-1 / 3834824941
ISBN-13 978-3-8348-2494-3 / 9783834824943
Zustand Neuware
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