Models in Hardware Testing (eBook)
XIV, 257 Seiten
Springer Netherlands (Verlag)
978-90-481-3282-9 (ISBN)
Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Models in Hardware Testing 2
1 Open Defects in Nanometer Technologies 14
2 Models for Bridging Defects 45
3 Models for Delay Faults 83
4 Fault Modeling for Simulation and ATPG 116
5 Generalized Fault Modeling for Logic Diagnosis 143
6 Models in Memory Testing 166
7 Models for Power-Aware Testing 195
8 Physical Fault Models and Fault Tolerance 224
Index 263
| Erscheint lt. Verlag | 12.11.2009 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Frontiers in Electronic Testing |
| Zusatzinfo | XIV, 257 p. |
| Verlagsort | Dordrecht |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Informatik ► Programmiersprachen / -werkzeuge |
| Informatik ► Weitere Themen ► Hardware | |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| Schlagworte | algorithms • Automat • CMOS • Diagnosis • Fault modeling • Hardware • Logic • Memory test • Model • Modeling • Simulation • Test of digital systems |
| ISBN-10 | 90-481-3282-7 / 9048132827 |
| ISBN-13 | 978-90-481-3282-9 / 9789048132829 |
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