Transiente Fehler in Mikroprozessoren (eBook)
XXV, 266 Seiten
Vieweg & Teubner (Verlag)
978-3-8348-9278-2 (ISBN)
Dr. Bernhard Fechner ist wissenschaftlicher Mitarbeiter an der FernUniversität Hagen im Lehrgebiet Parallelität und VLSI. Er beschäftigt sich mit fehlertoleranten multi-/ manycore-Systemen, Kryptographie, Computerarithmetik, Computerforensik und Computergrafik.
Dr. Bernhard Fechner ist wissenschaftlicher Mitarbeiter an der FernUniversität Hagen im Lehrgebiet Parallelität und VLSI. Er beschäftigt sich mit fehlertoleranten multi-/ manycore-Systemen, Kryptographie, Computerarithmetik, Computerforensik und Computergrafik.
Geleitwort 7
Zusammenfassung 8
Inhaltsverzeichnis 10
Abbildungsverzeichnis 12
Tabellenverzeichnis 15
Liste der Symbole 17
Liste der SI1-Einheiten 18
Liste der Abkürzungen 19
1 Einleitung und Motivation 22
1.1 Aufgabenstellung 32
1.2 Gliederung 33
2 Grundlagen 35
2.1 Charakterisierung von Fehlerursachen 39
2.2 Effektabbildung physikalischer Fehler 48
2.3 Mehrfädige Programmausführung 63
2.4 Industriell gefertigte mehrfädige Prozessoren 70
3 Simulations- und Synthesemethodik 76
3.1 Fehlerinjektion 78
3.2 Synthese für unterschiedliche Entwurfsstile 81
4 Dynamische Fehlerentdeckung und -behebung 90
4.1 Fehlererkennung in Hardware 92
4.2 Dynamische Mechanismen 183
4.3 Fehlerbehebung in Hardware 222
5 Überblick und Fazit 241
Anhang A: SPECint2006-Parameter 249
Anhang B: Felddaten (SGI Altix 4700) 253
Anhang C: Standardzellen-Makefile 260
Index 280
| Erscheint lt. Verlag | 13.2.2009 |
|---|---|
| Zusatzinfo | XXV, 266 S. |
| Verlagsort | Wiesbaden |
| Sprache | deutsch |
| Themenwelt | Informatik ► Weitere Themen ► Hardware |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| Schlagworte | Chip-Entwurf • Eingebettete Systeme • Fehlerinjektion • Fehlertoleranz • field programmable gate array • FPGA • Mikroprozessor • Prozessor • Standardzellen |
| ISBN-10 | 3-8348-9278-5 / 3834892785 |
| ISBN-13 | 978-3-8348-9278-2 / 9783834892782 |
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