Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

A. Benninghoven, C.A. Jr. Evans, R.A. Powell, R. Shimizu, H.A. Storms (Herausgeber)

Buch | Softcover

XIV, 300 Seiten

2011 | 1. Softcover reprint of the original 1st ed. 1979
Springer Berlin (Verlag)
978-3-642-61873-4 (ISBN)

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I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr..- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.

Erscheint lt. Verlag	13.12.2011
Reihe/Serie	Springer Series in Chemical Physics
Zusatzinfo	XIV, 300 p.
Verlagsort	Berlin
Sprache	englisch
Maße	152 x 229 mm
Gewicht	465 g
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Allgemeines / Lexika
Schlagworte	Massenspektrometrie • Mass Spectrometry
ISBN-10	3-642-61873-1 / 3642618731
ISBN-13	978-3-642-61873-4 / 9783642618734
Zustand	Neuware