Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS-II.
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979
1979
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-09843-0 (ISBN)
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-09843-0 (ISBN)
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| Zusatzinfo | 234 figs., 21 tab. XIII,298 pages. |
|---|---|
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | englisch |
| Gewicht | 745 g |
| Einbandart | gebunden |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie | |
| ISBN-10 | 3-540-09843-7 / 3540098437 |
| ISBN-13 | 978-3-540-09843-0 / 9783540098430 |
| Zustand | Neuware |
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