Applied Scanning Probe Methods VIII (eBook)
LIX, 465 Seiten
Springer Berlin (Verlag)
978-3-540-74080-3 (ISBN)
The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. This is the first book to summarize the state-of-the-art of this technique. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications.
P.G. Gucciardi, G. Bachelier, S.J. Stranick, and M. Allegrini: Background-free apertureless near-field imaging.- Hao-Chih (Bernard) Liu, Gregory A. Dahlen, Jason R. Osborne: Critical Dimension Atomic Force Microscopy for Sub-50 nm Microelectronics Technology Nodes.-
E. Cefalì, S. Patanè, S. Spadaro, R. Gardelli, M. Albani, M. Allegrini: Near Field Probes: from optical fibers to optical nanoantennas.- Sophie Marsaudon, Charlotte Bernard, Dirk Dietzel, Cattien V. Nguyen, Anne-Marie Bonnot, Jean-Pierre Aime, Rodolphe Boisgard: Carbon Nanotubes as SPM Tips: Nanotube Tips Mechanical Properties and Imaging.- H.D. Espinosa and Andrea Ho: Scanning Probes for the Life Sciences.- Hayato Sone and Sumio Hosaka: Self-sensing cantilever sensor for bio-science.- Vinzenz Friedli, Samuel Hoffmann, Johann Michler, and Ivo Utke: AFM Sensors in Scanning Electron and Ion Microscopes: Tools for Nanomechanics, Nanoanalytics, and Nanofabrication.- Peter J. Cumpson, Charles Clifford, Jose Portoles, James Johnstone, and Martin Munz: Cantilever Spring Constant Calibration in Atomic Force Microscopy.- Suzanne P. Jarvis, John E. Sader, Takeshi Fukuma: Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Y. Rosenwaks, O. Tal, S. Saraf, A. Schwarzman, E. Lepkifker, and A. Boag: Kelvin Probe Force Microscopy: Recent Advances and Applications.- Stefan Lanyi: Application of Scanning Capacitance Microscopy to Analysis at the Nanoscale.- Laura Fumagalli, Ignacio Casuso, Giorgio Ferrari and Gabriel Gomila: Probing Electrical transport properties at the nanoscale by current-sensing Atomic Force Microscopy.-
| Erscheint lt. Verlag | 20.12.2007 |
|---|---|
| Reihe/Serie | NanoScience and Technology | NanoScience and Technology |
| Zusatzinfo | LIX, 465 p. |
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie |
| Technik ► Maschinenbau | |
| Wirtschaft | |
| Schlagworte | AFM • Carbon Nanotubes • Ceramics • liquid • Material Science • Microscopy • Nanoscience • Nanotube • Pes • Physical Chemistry • Polymer • Surface Science |
| ISBN-10 | 3-540-74080-5 / 3540740805 |
| ISBN-13 | 978-3-540-74080-3 / 9783540740803 |
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