Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (eBook)
XII, 124 Seiten
Springer Netherlands (Verlag)
978-90-481-9644-9 (ISBN)
Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
Introduction.- Probabilistic Transfer Matrices.- Computing with Probabilistic Transfer Matrices.- Testing Logic Circuits for Probabilistic Faults.- Signtaure-based Reliability Analysis.- Design for Robustness.- Summary and Extensions.
| Erscheint lt. Verlag | 21.9.2012 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Lecture Notes in Electrical Engineering |
| Zusatzinfo | XII, 124 p. |
| Verlagsort | Dordrecht |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium |
| Informatik ► Weitere Themen ► Hardware | |
| Mathematik / Informatik ► Mathematik ► Angewandte Mathematik | |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| Schlagworte | Fault-Tolerance • Probabilistic Logic • Reliability • Soft Errors • Uncertainty |
| ISBN-10 | 90-481-9644-2 / 9048196442 |
| ISBN-13 | 978-90-481-9644-9 / 9789048196449 |
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