Applied Scanning Probe Methods XI (eBook)
LVI, 236 Seiten
Springer Berlin (Verlag)
978-3-540-85037-3 (ISBN)
The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. Real industrial applications are included.
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
| Erscheint lt. Verlag | 22.10.2008 |
|---|---|
| Reihe/Serie | NanoScience and Technology |
| Zusatzinfo | LVI, 236 p. 113 illus., 22 illus. in color. |
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie | |
| Technik ► Maschinenbau | |
| Wirtschaft | |
| Schlagworte | AFM • Ceramics • Microscopy • Polymer • REM • spectroscopy • Ultrasound |
| ISBN-10 | 3-540-85037-6 / 3540850376 |
| ISBN-13 | 978-3-540-85037-3 / 9783540850373 |
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