Identification and Simulation of Critical Interconnect Paths with Respect to Transient Noise on PCB-Level
Seiten
2009
|
1., Aufl.
Shaker (Verlag)
978-3-8322-7896-0 (ISBN)
Shaker (Verlag)
978-3-8322-7896-0 (ISBN)
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| Reihe/Serie | Berichte aus der Hochfrequenztechnik |
|---|---|
| Sprache | deutsch |
| Maße | 148 x 210 mm |
| Gewicht | 215 g |
| Einbandart | Paperback |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| Schlagworte | Critical Patterns • Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • Signal integrity • Transients |
| ISBN-10 | 3-8322-7896-6 / 3832278966 |
| ISBN-13 | 978-3-8322-7896-0 / 9783832278960 |
| Zustand | Neuware |
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