Dynamische Ermüdungsuntersuchungen an mikromechanischen Polysiliziumstrukturen - Wei Xiao

Dynamische Ermüdungsuntersuchungen an mikromechanischen Polysiliziumstrukturen

(Autor)

Buch | Softcover
X, 131 Seiten
2007 | 1., Aufl.
Technische Uni Berlin (Verlag)
978-3-7983-2028-4 (ISBN)
9,90 inkl. MwSt
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Zusatzinfo zahlr. Abb., Tab., Graf.
Sprache deutsch
Maße 148 x 210 mm
Gewicht 208 g
Einbandart Paperback
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte Ermüdung • HC/Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • MEMS • Polysilizium
ISBN-10 3-7983-2028-4 / 3798320284
ISBN-13 978-3-7983-2028-4 / 9783798320284
Zustand Neuware
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