21st IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems
Seiten
2006
|
Illustrated edition
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-7695-2706-2 (ISBN)
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-7695-2706-2 (ISBN)
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Erscheint lt. Verlag | 31.1.2006 |
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Reihe/Serie | IEEE Conference Proceedings |
Verlagsort | Los Alamitos |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
ISBN-10 | 0-7695-2706-X / 076952706X |
ISBN-13 | 978-0-7695-2706-2 / 9780769527062 |
Zustand | Neuware |
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