Prüflastnormal für Netzrückwirkungsmesssysteme

(Autor)

Buch | Softcover
178 Seiten
2023 | 1. Aufl.
Mensch & Buch (Verlag)
978-3-96729-191-9 (ISBN)

Lese- und Medienproben

Prüflastnormal für Netzrückwirkungsmesssysteme - Ying Su
79,90 inkl. MwSt
In the last few decades, the increasing number of electrical and electronic products (EEP) has made human life significantly easier and better. Due to the rapid increase in the EEP, which are operated on the network, the power quality in the low-voltage network caused by EEP must receive increasing attention. The power quality problem, which are caused by the EEP, were checked with compliance test systems (CTS), that are made up of three components. A test of the entire system was not carried out, as no suitable generators are available for this up to now. In this work, prototypes of test loads were developed, both for harmonic and for flicker measurements, which enable the compliance test systems (CTS) to be tested as a whole system. As an optimization, temperature control systems was developed especially for the FPL. The parameters of the PI control were individually optimized. Another optimization is the EMC protection, especially for the FPL, since when switching the FPL there is a risk that the digital circuits can be disturbed. With the help of this optimization, the digital circuits are protected. Furthermore, simulation models for all test loads were modeled with the help of a precise LCR bridge including the consideration of the inductive compensation of the input circuit. Comparison methods or validation methods for the simulation models in comparison to the HW were developed individually. Associated programs, e.g. evaluation programs, resampling programs, simulation programs, etc., have been developed for these methods and the analysis processes. With the help of some programs, the evaluations have been partially automated, and time has been saved. After the analysis with the above methods, the results were presented in this thesis, considering the measurement uncertainty. The target values of the HPL and the FPL, when they are connected to an ideal compliance test system (CTS), were simulated, and evaluated using the simulation models. However, a compliance test system (CTS) cannot be ideal, which is why phenomena with different disturbances have been investigated in this work. The harmonics from the power source and the line impedance stabilization network between the power source and the connection point of the EEP in a compliance test system (CTS) were investigated as the main disturbances in this work. In this work, the influences of numerous different disturbances were analyzed. However, in the future, there will still be a need to do further research, such as, to analyze the effects of disturbance with several harmonics at the same time. In den letzten Jahrzehnten ist das Leben des Menschens durch die steigende Anzahl von elektrischen und elektronischen Produkten (EEP) deutlich vereinfacht und verbessert worden. Durch die schnelle Zunahme der am Netz betriebenen EEP müssen die Power Quality, bzw. die Netzrückwirkungen im Niederspannungsnetz, die durch EEP verursacht werden, zunehmende Aufmerksamkeit erhalten. Die Netzrückwirkungen von den EEP wurden mit Netzrückwirkungsmesssystemen geprüft, die aus drei Einzelkomponenten aufgebaut sind. Ein Test des Gesamtsystems wurde anfangs nicht durchgeführt, da hierfür bisher keine geeigneten Generatoren zur Verfügung stehen. In dieser Arbeit wurden Prototypen von Prüflasten entwickelt, sowohl für Harmonische- als auch für Flickermessungen, die es ermöglichen, die Netzrückwirkungsmesssysteme als ganzes System zu prüfen. Als Optimierung wurden Temperaturregelungssysteme insbesondere für die FPL entwickelt. Die Parameter der PI-Reglung wurden individuell optimiert. Eine weitere Optimierung ist der EMV-Schutz, besonders bei den FPL, da beim Umschalten der FPL die Gefahr besteht, dass die digitalen Schaltungen gestört werden könnten. Mithilfe dieser Optimierung sind die digitalen Schaltungen geschützt. Weiterhin wurden Simulationsmodelle für alle Prüflasten mithilfe einer präzisen LCR-Brücke einschließlich der Berücksichtigung der induktiven Kompensation des Eingangskreises modelliert. Vergleichsmethoden bzw. Validierungsmethoden für die Simulationsmodelle im Vergleich zu den HW-Aufbauten wurden individuell entwickelt. Für diese Methoden bzw. die Analyseabläufe wurden zugehörige Programme, z.B. Auswertungsprogramme, Resampling-Programme, Nachbildungsprogramme usw., entwickelt. Mithilfe einiger Programme wurden die Auswertungen teilweise automatisiert und Zeit gespart. Nach der Analyse mit den obengenannten Methoden wurden die Ergebnisse unter Berücksichtigung der Messunsicherheit in dieser Arbeit präsentiert. Die Sollwerte der HPL und der FPL, als sie in einem idealen Netzrückwirkungsmesssystem eingeschlossen sind, wurden mithilfe der Simulationsmodelle simuliert und ausgewertet. Ein Netzrückwirkungsmesssystem kann aber nicht ideal sein, deswegen sind in dieser Arbeit Phänomene bei unterschiedlichen Störungen untersucht worden. Die Harmonischen aus der Leistungsquelle und Netzimpedanz zwischen der Leistungsquelle und dem Anschlusspunkt des EEPs bei einem Netzrückwirkungsmesssystem wurden als Hauptstörungen in dieser Arbeit untersucht. In dieser Arbeit wurden die Einflüsse durch zahlreiche unterschiedliche Störungen analysiert, trotzdem besteht zukünftig auch weiterhin der Bedarf daran zu forschen und z.B. die Auswirkungen von mehreren Harmonischen gleichzeitig zu analysieren.
Erscheinungsdatum
Reihe/Serie Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; 78
Verlagsort Berlin
Sprache deutsch
Maße 148 x 210 mm
Gewicht 400 g
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Technik Maschinenbau
Schlagworte Eep • elektrische und elektronische Produkte (EEP) • EU-Markt • Flicker (FPL) • Flickermessungen • Harmonische (HPL) • harmonische Messungen • harmonische Ströme • Kalibirierung eines NRM • Kalibrierung • Netzrückwirkungen • Netzrückwirkungsmesssysteme (NRM) • Netzrückwirkungsmessysteme (NRM) • nichtsinusförmiger Stromverlauf • NRM • Referenzprüflastprototypen • Simulationsmodell • Störungen
ISBN-10 3-96729-191-X / 396729191X
ISBN-13 978-3-96729-191-9 / 9783967291919
Zustand Neuware
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