Analytische Transmissionselektronenmikroskopie
Springer Spektrum (Verlag)
978-3-662-66722-4 (ISBN)
- Setzt den Fokus ist auf eine praktische Herangehensweise
- Bietet zahlreiche Tipps basierend auf mehrjähriger praktischer Erfahrung mit TEM
- Erklärt die Prinzipien und Anwendung von TEM auf eine klare und verständliche Weise
Das Buch wendet sich an alle, egal ob im Studium, in technischen Berufen, oder in der Wissenschaft, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen Überblick über diese Methode erhalten möchten. Insbesondere betrifft dies Personen, die an einem Transmissionselektronenmikroskop arbeiten wollen oder müssen, die aber noch keine spezielle elektronenmikroskopische Ausbildung durchlaufen haben.
Das Buch basiert auf den Erfahrungen der Autoren bei der Unterrichtung von Studierenden, Promovierenden und in technischen Berufen Tätigen. Der Überblick über die analytische Transmissionselektronenmikroskopie umfasst die Schwerpunkte Optische Abbildung, Elektronenwellen, magnetische Linsen, Abbildungsfehler, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Präparation dünner Proben, Justage des Mikroskops, Elektronenbeugung, Kontrastentstehung, Höchstauflösungselektronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie Analytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie.
Ein mathematischer Anhang erklärt grundlegende Formalismen zur Thematik.
Jürgen Thomas (Jahrgang 1948) studierte von 1966 bis 1971 an der Technischen Universität Dresden Physik. Er schloß 1970 Bekanntschaft mit der Elektronenmikroskopie und diplomier-te und promovierte bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronenmikro-skopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Ab 1978 war er in der Industriefor-schung für die Entwicklung von Elektronenstrahlschweiß- und Vakuumtechnologien verant-wortlich. 1990 wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er bis Ende 2019 im Labor für analytische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitete.
Thomas Gemming (Jahrgang 1969) studierte von 1988 bis 1994 an der Technischen Hoch-schule Karlsruhe Physik. Er promovierte 1998 auf dem Gebiet der höchstauflösenden Trans-missions¬elektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Man¬fred Rühle. Anschließend erweiterte er als wissenschaftlicher Mitarbeiter sein Ar-beitsgebiet auf die analytische Elektronenmikroskopie. Im Jahr 2000 wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er heute die Ab-teilung Strukturanalyse leitet. Außerdem ist er Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.
Aus dem Inhalt: Wozu dieser Aufwand
Was wir über Elektronenoptik und den Aufbau eines Elektronenmikroskops wissen sollten
Wir präparieren elektronentransparente Proben
Wir beginnen mit der praktischen Arbeit
Wir schalten um auf Elektronenbeugung
Warum sehen wir Kontraste im Bild
Wir erhöhen die Vergrößerung
Wir schalten um auf Rastertransmissionselektronenmikroskopie
Wir nutzen die analytischen Möglichkeiten
Grundlagen genauer erklärt (etwas mehr Mathematik).
| Erscheinungsdatum | 07.02.2024 |
|---|---|
| Zusatzinfo | XIX, 392 S. 283 Abb., 44 Abb. in Farbe. |
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | deutsch |
| Maße | 155 x 235 mm |
| Gewicht | 629 g |
| Einbandart | kartoniert |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Angewandte Physik | |
| Technik ► Maschinenbau | |
| Schlagworte | Arbeiten TEM • Aufbau TEM • Elektronenmikroskop • TEM Einführung • Tipps TEM • Transmissionselektronenmikroskopie |
| ISBN-10 | 3-662-66722-3 / 3662667223 |
| ISBN-13 | 978-3-662-66722-4 / 9783662667224 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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