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Modélisation, caractérisation et mesures de circuits intégrés passifs RF

(Autor)

Buch | Softcover
248 Seiten
2009
Lavoisier-Hermès (Verlag)
978-2-7462-1497-2 (ISBN)
186,20 inkl. MwSt
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Électronique et micro-électronique

Le traité Electronique, Génie Electrique, Microsystèmes répond au besoin de disposer d'un ensemble de connaissances, méthodes et outils nécessaires à la maîtrise de la conception, de la fabrication et de l'utilisation des composants, circuits et systèmes utilisant l'électricité, l'optique et l'électronique comme support.

Conçu et organisé dans un souci de relier étroitement les fondements physiques et les méthodes théoriques au caractère industriel des disciplines traitées, ce traité constitue un état de l'art structuré autour des quatre grands domaines suivants :


  • Electronique et micro-électronique

  • Optoélectronique

  • Génie électrique

  • Microsystèmes

Chaque ouvrage développe aussi bien les aspects fondamentaux qu'expérimentaux du domaine qu'il étudie. Une classification des différents chapitres contenus dans chacun, une bibliographie et un index détaillé orientent le lecteur vers ses points d'intérêt immédiats : celui-ci dispose ainsi d'un guide pour ses réflexions ou pour ses choix.

Les savoirs, théories et méthodes rassemblés dans chaque ouvrage ont été choisis pour leur pertinence dans l'avancée des connaissances ou pour la qualité des résultats obtenus.

Erscheinungsdatum
Sprache französisch
Maße 160 x 240 mm
Gewicht 570 g
Einbandart Paperback
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte TRAITE EGEM • Traité EGEM, Microsystèmes
ISBN-10 2-7462-1497-0 / 2746214970
ISBN-13 978-2-7462-1497-2 / 9782746214972
Zustand Neuware
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