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Caractérisation et nettoyage du silicium : caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

(Autor)

Buch | Softcover
192 Seiten
2009
Lavoisier-Hermès (Verlag)
978-2-7462-0605-2 (ISBN)
143,40 inkl. MwSt
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Passe en revue les étapes élémentaires de la fabrication de composants micro-électroniques : nettoyage, dépôt métallique, dépôt de couche diélectrique, oxydation, dopage, gravure, lithographie. Présente les techniques de caractérisation, indispensables pour juger de la qualité des procédés. Pour chaque étape, sont détaillés le procédé, les équipements et la physique des techniques.
Erscheinungsdatum
Sprache französisch
Maße 160 x 240 mm
Gewicht 510 g
Einbandart Paperback
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte TRAITE EGEM • Traité EGEM, Electronique et micro-électronique
ISBN-10 2-7462-0605-6 / 2746206056
ISBN-13 978-2-7462-0605-2 / 9782746206052
Zustand Neuware
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