Characterisation and Control of Defects in Semiconductors (eBook)
500 Seiten
The Institution of Engineering and Technology (Verlag)
978-1-78561-656-3 (ISBN)
| Erscheint lt. Verlag | 27.11.2019 |
|---|---|
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 1-78561-656-0 / 1785616560 |
| ISBN-13 | 978-1-78561-656-3 / 9781785616563 |
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