RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range
Seiten
2020
Saint Philip Street Press (Verlag)
978-1-01-327862-4 (ISBN)
Saint Philip Street Press (Verlag)
978-1-01-327862-4 (ISBN)
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| Erscheinungsdatum | 26.10.2020 |
|---|---|
| Sprache | englisch |
| Maße | 216 x 280 mm |
| Gewicht | 485 g |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 1-01-327862-3 / 1013278623 |
| ISBN-13 | 978-1-01-327862-4 / 9781013278624 |
| Zustand | Neuware |
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