Asian Test Symposium (Ats) 11th
Seiten
2002
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-7695-1825-1 (ISBN)
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-7695-1825-1 (ISBN)
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Held in Guam in November of 2002, the symposium on the test technologies and research issues related to silicon chip production, resulted in the 74 papers presented here. The papers are organized into sections related to the symposium sessions on test generation, on-line testing, analog and mixed si
| Erscheint lt. Verlag | 15.6.2006 |
|---|---|
| Zusatzinfo | illustrations |
| Verlagsort | Los Alamitos, CA |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7695-1825-7 / 0769518257 |
| ISBN-13 | 978-0-7695-1825-1 / 9780769518251 |
| Zustand | Neuware |
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