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ISTFA 2002
Proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 3-7 November 2002, Phoenix, Arizona
Seiten
2002
ASM International (Verlag)
978-0-87170-771-0 (ISBN)
ASM International (Verlag)
978-0-87170-771-0 (ISBN)
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Proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 3-7 November 2002, Phoenix, Arizona. This proceedings volume presents in-depth coverage of the latest developments and the most advanced techniques for microelectronics failure analysis. The CD-ROM provides the complete content of the book in searchable Adobe Acrobat PDF format. Contents: Advanced Microelectronic Failure Analysis Techniques Metrology and Materials Analysis Package Level Analysis Microelectromechanical Systems Sample Preparation Failure Analysis Processes System Level Analysis Die Level Fault Isolation Discretes/Passives Scanning Probe Microscopy Techniques Test Analysis Optical Probing Yield Enhancement. (+ VAT)
Verlagsort | Ohio |
---|---|
Sprache | englisch |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Technik ► Maschinenbau | |
ISBN-10 | 0-87170-771-3 / 0871707713 |
ISBN-13 | 978-0-87170-771-0 / 9780871707710 |
Zustand | Neuware |
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