Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials

Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials

Buch | Softcover
88 Seiten
2019
MDPI (Verlag)
978-3-03897-527-4 (ISBN)
46,60 inkl. MwSt
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This Special Issue serves as a crystallographic forum covering various aspects of material science that have in common the use of the powerful Rietveld method in the analysis of the powder XRD patterns of investigated compounds.

Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Chemistry, Osijek, Croatia

Erscheinungsdatum
Mitarbeit Gast Herausgeber: Igor Djerdj
Verlagsort Basel
Sprache englisch
Maße 170 x 244 mm
Themenwelt Medizin / Pharmazie Gesundheitsfachberufe MTA - Radiologie
Naturwissenschaften Chemie
Technik Maschinenbau
Schlagworte Crystalline Materials • Functional Materials • Microstructural Analysis • Rietveld method • structural characterization • Structural Materials • X-ray and neutron diffraction
ISBN-10 3-03897-527-3 / 3038975273
ISBN-13 978-3-03897-527-4 / 9783038975274
Zustand Neuware
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