Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials
Seiten
2019
MDPI (Verlag)
978-3-03897-527-4 (ISBN)
MDPI (Verlag)
978-3-03897-527-4 (ISBN)
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This Special Issue serves as a crystallographic forum covering various aspects of material science that have in common the use of the powerful Rietveld method in the analysis of the powder XRD patterns of investigated compounds.
Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Chemistry, Osijek, Croatia
Erscheinungsdatum | 05.03.2022 |
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Mitarbeit |
Gast Herausgeber: Igor Djerdj |
Verlagsort | Basel |
Sprache | englisch |
Maße | 170 x 244 mm |
Themenwelt | Medizin / Pharmazie ► Gesundheitsfachberufe ► MTA - Radiologie |
Naturwissenschaften ► Chemie | |
Technik ► Maschinenbau | |
Schlagworte | Crystalline Materials • Functional Materials • Microstructural Analysis • Rietveld method • structural characterization • Structural Materials • X-ray and neutron diffraction |
ISBN-10 | 3-03897-527-3 / 3038975273 |
ISBN-13 | 978-3-03897-527-4 / 9783038975274 |
Zustand | Neuware |
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