Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability -  Michael Pecht,  Riko Radojcic,  Gopal Rao

Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability (eBook)

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2017
224 Seiten
CRC Press (Verlag)
978-1-351-44357-9 (ISBN)
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Achieving cost-effective performance over time requires an organized, disciplined, and time-phased approach to product design, development, qualification, manufacture, and in-service management. Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability examines the principal failure mechanisms associated with modern integrated circuits and describes common practices used to resolve them.This quick reference on semiconductor reliability addresses the key question: How will the understanding of failure mechanisms affect the future?Chapters discuss:failure sites, operational loads, and failure mechanism intrinsic device sensitivities electromigration hot carrier aging time dependent dielectric breakdown mechanical stress induced migration alpha particle sensitivity electrostatic discharge (ESD) and electrical overstress latch-up qualification screening guidelines for designing reliabilityGuidebook for Managing Silicon Chip Reliability focuses on device failure and causes throughout - providing a thorough framework on how to model the mechanism, test for defects, and avoid and manage damage. It will serve as an exceptional resource for electrical engineers as well as mechanical engineers working in the field of electronic packaging.
Erscheint lt. Verlag 22.11.2017
Sprache englisch
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Technik Maschinenbau
Technik Umwelttechnik / Biotechnologie
ISBN-10 1-351-44357-7 / 1351443577
ISBN-13 978-1-351-44357-9 / 9781351443579
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