Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation presents several methods to determine the reliability of infrared LEDs. The book focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations. The authors identify different parameters related to specific zones in components and then extract failure mechanisms based on measured performance-before and after aging tests. The knowledge of failure mechanisms allows you to extract degradation laws related to a physics equation so an accurate lifetime distribution can then be proposed.
- Deals exclusively with reliability, based on the physics of failure for infrared LEDs
- Identifies failure mechanisms, lifetime distribution, and selection of the best component for dedicated applications
- Uses a complete methodology to reduce the number of samples needed to estimate lifetime distribution
- Focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations
Yannick Deshayes received PhD. Degree in electronic from the University of Bordeaux 1, France, in 19 july 2002.
In 2004, he became associate professor in University of Bordeaux in the department of the science of engineer. He has primarily worked in the mechanical simulation of complete laser module structure to characterize the stress after manufacturing process. He also performed The evaluation of failure mechanisms using both electro-optical analyses and finite element simulation. His main activities are composed of physics of failure from photonics materials to complex devices. He develops quantum theory for establish degradation laws on photonics devices for the LED, laser and photonics applications.
The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed. Deals exclusively with reliability, based on the physics of failure for infrared LEDs Identifies failure mechanisms, lifetime distribution, and selection of the best component for dedicated applications Uses a complete methodology to reduce the number of samples needed to estimate lifetime distribution Focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations
| Erscheint lt. Verlag | 27.3.2017 |
|---|---|
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-08-101088-5 / 0081010885 |
| ISBN-13 | 978-0-08-101088-4 / 9780081010884 |
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