Defects and Impurities in Silicon Materials (eBook)

An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering

Guido Langouche, Yutaka Yoshida (Herausgeber)

eBook Download: EPUB

2016
Springer Japan (Verlag)
978-4-431-55800-2 (ISBN)

This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years. Such progress has beenmade possible by newly developed experimental methods, first principle theories,and computer simulation techniques. The book is aimed at young researchers, scientists, and technicians in related industries. The mainpurposes are to provide readers with 1) the basic physics behind defects insilicon materials, 2) the atomistic modeling as well as the characterizationtechniques related to defects and impurities in silicon materials, and 3) anoverview of the wide range of the research fields involved.

Erscheint lt. Verlag	30.3.2016
Sprache	englisch
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie
	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
	Technik ► Maschinenbau
ISBN-10	4-431-55800-4 / 4431558004
ISBN-13	978-4-431-55800-2 / 9784431558002

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