Höhenstrahlungsresistenz von Silizium-Hochleistungsbauelementen
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Halbleiter-Hochleistungsbauelemente können durch den Einschlag eines kosmischen Teilchens wie z.B. eines Neutrons zerstört werden. In dieser Dissertation wird ein physikalisches Modell vorgestellt, das - basierend auf numerischen Simulationen - das mikroskopische Verhalten im Inneren von Silizium-Hochleistungsbauelementen beschreibt und dabei ein vertieftes Verständnis des Fehlermechanismus liefert. Das Modell ermöglicht eine prädiktive Fehler- und Robustheitsanalyse verschiedener Bauelement-Designs.
Erscheint lt. Verlag | 2.4.2015 |
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Reihe/Serie | Selected Topics of Electronics and Micromechatronics /Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ; 46 |
Sprache | deutsch |
Maße | 148 x 210 mm |
Gewicht | 158 g |
Einbandart | Paperback |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Schlagworte | Höhenstrahlung • Leistungsbauelemente • Silizium • Stoßionisation • Streamer |
ISBN-10 | 3-8440-3464-1 / 3844034641 |
ISBN-13 | 978-3-8440-3464-6 / 9783844034646 |
Zustand | Neuware |
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