Reflexionsellipsometrie mit Nahbereichsabbildungssystemen im Millimeterwellenbereich

Aufgrund des angestiegenen Bedrohungspotenzials terroristischer Anschläge wurden in den letzten Jahren abbildende Millimeterwellensysteme für die Personenkontrolle entwickelt. Diese werden hauptsächlich an Flughäfen zur Detektion am Körper versteckter, sicherheitsrelevanter Gegenstände eingesetzt. Im Gegensatz zu den Metalldetektoren können mit den sogenannten Personenscannern nicht-metallische Objekte wie Keramikmesser oder Sprengstoffe erkannt werden. Damit verbunden ist ein deutlicher Sicherheitsgewinn.

In dieser Arbeit ist das Ellipsometrieverfahren aus der Optik in den Millimeterwellenbereich adaptiert und mit einem polarimetrischen Nahbereichsabbildungssystem umgesetzt worden.

Mit der vorgestellten Methode ist im Bereich der Personenkontrolle eine Detektion und Klassifikation dielektrischer Objekte auf Basis ihrer unterschiedlichen Materialeigenschaften möglich. Hierfür werden auftretende Streuprozesse analysiert, so dass der Ansatz eine Weiterentwicklung bestehender Verfahren zur Anomalieerkennung darstellt. Die Reflexionsellipsometrie ermöglicht eine monofrequente Detektion dünner dielektrischer Schichten und ist weniger anfällig für Fehler, da ein Verhältnis zweier komplexer Messgrößen und keine absoluten Werte ausgewertet werden.