1999 53rd Conference on Computer-Aided Design and Test for High-Speed Electronics -  IEEE

1999 53rd Conference on Computer-Aided Design and Test for High-Speed Electronics

(Autor)

Buch | Softcover
684 Seiten
1999 | 1999 ed.
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-5500-2 (ISBN)
186,40 inkl. MwSt
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This conference highlights multidisciplinary areas of control system applications enabling us to respond to the technological challenges of the 21st century. Topics covered include: uncertainty, complexity and learning; control in the automotive industry; and convex matrix optimization problems.
Erscheint lt. Verlag 30.9.1999
Verlagsort Piscataway NJ
Sprache englisch
Themenwelt Informatik Weitere Themen CAD-Programme
Technik Elektrotechnik / Energietechnik
ISBN-10 0-7803-5500-8 / 0780355008
ISBN-13 978-0-7803-5500-2 / 9780780355002
Zustand Neuware
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