Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

Peter F. Schmidt (Autor)

Buch | Softcover

800 Seiten | Ausstattung: Softcover & CD-ROM (Software)

2018 | 2., völlig neu bearbeitete Auflage
expert (Verlag)
978-3-8169-1597-3 (ISBN)

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Der Themenband

vermittelt Kenntnisse über den Aufbau und die Funktionsweise von Rasterelektronenmikroskopen
informiert über die Vielfalt der Abbildungsmöglichkeiten
gibt praxisbezogen Hinweise auf die Optimierung der Geräteeinstellung für eine optimale Abbildung
führt in die Verfahren zur qualitativen und quantitativen Mikrobereichsanalyse ein
gibt eine Übersicht über Verfahren zur Oberflächenanalytik
informiert über alternative Rastermethoden
gibt Tipps für die Präparation und Beschichtung von Proben
zeigt Einsatzmöglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie für Schadensfalluntersuchungen an Metallen, Keramiken und Polymeren
informiert über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie in der Halbleitertechnologie und
informiert über Zusatzgeräte zur Erweiterung des Einsatzbereiches von REM.

»Das im Buch abgehandelte Wissensgebiet ist sehr umfangreich, das Werk zeichnet sich jedoch dadurch aus, dass auch dem Praktiker und Autodidakten die Materie durch systematischen Aufbau des Lehrstoffes nahegebracht wird.«
Material and Corrosion

»Das Buch ist in seiner Gesamtheit ein Muss für alle Anwender und Interpreten rasterelektronenmikroskopischer und mikroanalytischer Untersuchungsmethoden und ist darüber hinaus ein Nachschlagewerk für alle, die sich auch mit der Theorie dieser Geräte näher befassen wollen.«
Zeitschrift für Metallkunde

Reihe/Serie	Edition expertsoft ; 84
Verlagsort	Renningen
Sprache	deutsch
Maße	162 x 234 mm
Gewicht	1062 g
Einbandart	kartoniert
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	Elektronenmikroskopie • Mikrobereichsanalyse • Rasterelektronenmikroskopie
ISBN-10	3-8169-1597-3 / 3816915973
ISBN-13	978-3-8169-1597-3 / 9783816915973
Zustand	Neuware