Structure Analysis of Advanced Nanomaterials
Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy
Seiten
2014
De Gruyter (Verlag)
978-3-11-030472-5 (ISBN)
De Gruyter (Verlag)
978-3-11-030472-5 (ISBN)
High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.
Takeo Oku, The University of Shiga Prefecture, Japan.
| Erscheint lt. Verlag | 15.9.2014 |
|---|---|
| Zusatzinfo | 94 b/w ill., 21 b/w tbl. |
| Verlagsort | Berlin/Boston |
| Sprache | englisch |
| Maße | 170 x 240 mm |
| Gewicht | 490 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie | |
| Technik ► Maschinenbau | |
| Schlagworte | Advanced Nanomaterials • crystallography • Energie • Industrial Application • Materials Science • Materials Science; Advanced Nanomaterials; Crystallography; Industrial Application • Materialwissenschaften • Nanomaterialien • Nanostrukturen • Nanotechnologie |
| ISBN-10 | 3-11-030472-4 / 3110304724 |
| ISBN-13 | 978-3-11-030472-5 / 9783110304725 |
| Zustand | Neuware |
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