Fractal-Based Point Processes (eBook)
594 Seiten
Wiley (Verlag)
978-0-471-75470-1 (ISBN)
STEVEN BRADLEY LOWEN, PHD, is Assistant Professor of Psychiatry at Harvard Medical School and is affiliated with the Brain Imaging Center at McLean Hospital in Belmont, Massachusetts. He received a BS degree from Yale University and MS and PhD degrees from Columbia University. MALVIN CARL TEICH, PHD, is Professor in the Departments of Electrical and Computer Engineering; Biomedical Engineering; and Physics at Boston University; as well as Professor Emeritus at Columbia University. He received SB, MS, and PhD degrees from the Massachusetts Institute of Technology, Stanford University, and Cornell University, respectively.
Preface.
List of Figures.
List of Tables.
Authors.
1. Introduction.
2. Scaling, Fractals, and Chaos.
3. Point Processes: Definition and Measures.
4. Point Processes: Examples.
5. Fractal and Fractal-Rate Point Processes.
6. Processes Based on Fractional Brownian Motion.
7. Fractal Renewal Processes.
8. Processes Based on the Alternating Fractal Renewal
Process.
9. Fractal Shot Noise.
10. Fractal-Shot-Noise-Driven Point Processes.
11. Operations.
12. Analysis and Estimation.
13. Computer Network Traffic.
Appendix A: Derivations.
Appendix B: Problem Solutions.
Appendix C: List of Symbols.
Bibliography.
Author Index.
Subject Index.
"The style of text is practical and informal with a distinct
engineering approach." (Zentralblatt Math)
"It is apparent that the authors are truly at home in their
field...will certainly prove valuable to scientists working in
many distinct fields." (Journal of the American Statistical
Association, March 2007)
"...an excellent exposition of a cutting-edge topic, and will be
extremely valuable as a textbook and for scientists in diverse
fields, including astronomy." (Technometrics, February
2007)
"...a very well-written monograph on its subject..."
(Computing Reviews.com, August 10, 2006)
"....a valuable resource and a quarry of many concrete
results from real life." (Mathematical Reviews, 2006f)
Erscheint lt. Verlag | 3.10.2005 |
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Reihe/Serie | Wiley Series in Probability and Statistics |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Mathematik ► Geometrie / Topologie |
Mathematik / Informatik ► Mathematik ► Statistik | |
Mathematik / Informatik ► Mathematik ► Wahrscheinlichkeit / Kombinatorik | |
Technik | |
Schlagworte | Computational & Graphical Statistics • Engineering statistics • Rechnergestützte u. graphische Statistik • Rechnergestützte u. graphische Statistik • Spezialthemen Statistik • Statistics • Statistics Special Topics • Statistik • Statistik in den Ingenieurwissenschaften |
ISBN-10 | 0-471-75470-6 / 0471754706 |
ISBN-13 | 978-0-471-75470-1 / 9780471754701 |
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Größe: 29,4 MB
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