Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
Seiten
2012
KIT Scientific Publishing (Verlag)
978-3-86644-833-9 (ISBN)
KIT Scientific Publishing (Verlag)
978-3-86644-833-9 (ISBN)
In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand.
Erscheint lt. Verlag | 10.8.2012 |
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Reihe/Serie | Schriften des Instituts für Werkstoffe der Elektrotechnik, Karlsruher Institut für Technologie / Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik ; 22 |
Zusatzinfo | graph. Darst. |
Sprache | deutsch |
Maße | 170 x 240 mm |
Gewicht | 460 g |
Einbandart | Paperback |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Schlagworte | anodengestützte Zelle • APU Stack • ASC • Brennstoffzellen • Cr-Vergiftungmetallischer Interkonnektor • Cr-Vergiftung metallischer Interkonnektor (MIC) anodengestützte Zelle (ASC) Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC) APU Stack • Cr-Vergiftung§§§metallischer Interkonnektor (MIC)§§§anodengestützte Zelle (ASC)§§§Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC)§§§APU Stack • Hochtemperatur Brennstoffzelle • MIC • SOFC |
ISBN-10 | 3-86644-833-3 / 3866448333 |
ISBN-13 | 978-3-86644-833-9 / 9783866448339 |
Zustand | Neuware |
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