Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene - David Weinberger

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Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene (eBook)

David Weinberger (Autor)

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2012 | 1. Auflage
72 Seiten
GRIN Verlag
978-3-656-27620-3 (ISBN)

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Bachelorarbeit aus dem Jahr 2011 im Fachbereich Elektrotechnik, Note: 1, Hochschule Mittweida (FH) (Elektro- und Informationstechnik), Sprache: Deutsch, Abstract: Diese Bachelorarbeit soll die Grundlage für hochbeschleunigte Zuverlässigkeitstests auf Waferebene unter Verwendung von In-Situ-Heizelementen aus polykristallinem Silizium bilden. Nach einer Einführung in die Zuverlässigkeitstheorie wird eine Auswahl an Zuverlässigkeitstest vorgestellt. Diese sind momentan, durch den Einsatz von Hot-Chuck's, noch recht zeitaufwändig und verlangen daher nach einer alternativen Wärmequelle. Der in dieser Arbeit vorgestellte Ausweg beschreibt einen Polysilizium-Widerstand direkt in der zu beheizenden Struktur. Weiterhin wird die Wärmeausbreitung durch thermische Simulationen dargestellt. Am Ende dieser Arbeit wird noch die mögliche Temperaturmessung an solchen Teststrukturen vorgestellt.

Erscheint lt. Verlag	20.9.2012
Verlagsort	München
Sprache	deutsch
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	Halbleiter • Halbleiterstrukturen • heater • Polysilizium • Silizium • Simulation • Wafer • zuverlaessigkeit • Zuverlässigkeit
ISBN-10	3-656-27620-X / 365627620X
ISBN-13	978-3-656-27620-3 / 9783656276203

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