Ein Beitrag zum linearen modellbasierten Test nichtlinearer kaskadierter Strukturen

Das Testen während verschiedener Produktionsphasen spielt eine zentrale Rolle bei der Sicherstellung der Produktqualität von elektronischen Komponenten. In dieser Arbeit wird ein linearer modellbasierter Test vorgestellt und dessen Nutzung zur Prüfung komplexer analoger, schwach nichtlinearer Strukturen, wie sie bei Kommunikationsschaltkreisen auftreten, theoretisch untersucht. Dabei findet die effiziente Nutzung vorhandener Testerressourcen durch die Erhöhung der Testrate Berücksichtigung. Ausgehend von einer allgemeinen Beschreibung des modellbasierten Tests wird die Erstellung eines linearen Modells für nichtlineare Systeme ausführlich dargelegt. Notwendige Identifikationsmethoden zur Modellparameterbestimmung werden beleuchtet und anhand beispielhafter Testfälle hinsichtlich ihrer Anwendbarkeit bewertet. Die Verknüpfung des linearen Modells mit der Volterrareihe resultiert in einer Testmethode, die eine schnelle Identifikation von Systemparametern und die direkte Berechnung von Verhaltenskenngrößen gestattet. Zahlreiche Simulationsergebnisse untermauern die Leistungsfähigkeit des linearen modellbasierten Tests im Vergleich mit konventionell durchgeführten Messungen.