Low Energy x-Ray Diagnostics, 1981
Seiten
1998
American Institute of Physics (Verlag)
978-0-88318-174-4 (ISBN)
American Institute of Physics (Verlag)
978-0-88318-174-4 (ISBN)
- Keine Verlagsinformationen verfügbar
- Artikel merken
| Erscheint lt. Verlag | 3.4.1998 |
|---|---|
| Zusatzinfo | Illustrations |
| Verlagsort | New York |
| Sprache | englisch |
| Gewicht | 1229 g |
| Einbandart | gebunden |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Optik |
| Technik | |
| ISBN-10 | 0-88318-174-6 / 0883181746 |
| ISBN-13 | 978-0-88318-174-4 / 9780883181744 |
| Zustand | Neuware |
| Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
Mehr entdecken
aus dem Bereich
aus dem Bereich
Grundlagen - Verfahren - Anwendungen - Beispiele
Buch | Hardcover (2022)
Hanser, Carl (Verlag)
49,99 €
Grundlagen und Anwendungen
Buch | Hardcover (2023)
Hanser, Carl (Verlag)
59,99 €
