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Microstructural Investigation and Analysis

B. Jouffrey, J. Svejcar (Herausgeber)

Software / Digital Media
338 Seiten
2006
Wiley-VCH Verlag GmbH (Hersteller)
978-3-527-60616-0 (ISBN)
149,95 inkl. MwSt
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Modern understanding of materials include the approach at the microscopic or nanometric level. In the best case, imaging at the atomic level is possible. These approaches are essential for instance in the exploration of interfaces, surfaces and defects in crystals. Several aspects can be explored, the microstructure, local element composition, and chemical bonds. This book presents the state-of-the-art of modern investigation methods of materials.

Scanning and Transmission Electron Microscopy Convergent Beam Electron Diffraction X-Ray Characterization EELS X-Ray Synchrotron Radiation (EXAFS, XANES) SIMS Auger Microscopy PIXE Near Field Microscopy

Erscheint lt. Verlag 9.5.2006
Reihe/Serie Euromat 99 S.
Verlagsort Weinheim
Sprache englisch
Gewicht 10 g
Themenwelt Naturwissenschaften Chemie
Technik Maschinenbau
ISBN-10 3-527-60616-5 / 3527606165
ISBN-13 978-3-527-60616-0 / 9783527606160
Zustand Neuware
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