IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for Cmos and Bicmos Integrated-Circuit Process Characterization
Seiten
1997
IEEE Publications,U.S. (Verlag)
978-1-55937-152-0 (ISBN)
IEEE Publications,U.S. (Verlag)
978-1-55937-152-0 (ISBN)
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Verlagsort | Piscataway NJ |
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Sprache | englisch |
Maße | 260 x 330 mm |
Gewicht | 159 g |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
ISBN-10 | 1-55937-152-8 / 1559371528 |
ISBN-13 | 978-1-55937-152-0 / 9781559371520 |
Zustand | Neuware |
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