Partielle-Schirmungs-Analyse
Seiten
2009
|
1., Aufl.
Shaker (Verlag)
978-3-8322-8760-3 (ISBN)
Shaker (Verlag)
978-3-8322-8760-3 (ISBN)
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Ein neues Messverfahren zur Prüfung von HF-Schirmen wird mit den bekannten Schirmdämpfungsmessverfahren verglichen. Es ist sein Funktionsprinzip beschrieben und der Nachweis erbracht, wie seine Messergebnisse mit den Ergebnissen der bekannten Verfahren korrelieren.
Mit der Schirmdämpfungsmessung wird geprüft, wie viel elektromagnetische Energie in ein Schirmgehäuse eintreten oder austreten kann. Für diese Messung muss das Schirmgehäuse vollständig geschlossen und leer sein. Außerdem können die genormten Schirmdämpfungsmessverfahren nur in einer Absorberhalle durchgeführt werden. Eine Nachprüfung vor Ort ist deshalb nicht möglich.
Bei dem vorgestellten neuen Messverfahren der Partiellen-Schirmungs-Analyse wird aus lokalen induzierten Strömen in der Schirmhülle auf die Schirmwirkung an diesen Stellen geschlossen. Diese Stellen bzw. Teile der Schirmhülle, wie z.B. Dichtungen an Übergängen, können daher ganz unabhängig von den übrigen Komponenten der Schirmhülle analysiert werden. Das Gehäuse muss also nicht vollständig und verschlossen sein. Es spielt auch keine Rolle, ob es leer oder mit Elektronikkomponenten bestückt ist. Es ist also eine einfache Nachprüfung von vollständigen Geräten auch am Einsatzort möglich.
Mit der Schirmdämpfungsmessung wird geprüft, wie viel elektromagnetische Energie in ein Schirmgehäuse eintreten oder austreten kann. Für diese Messung muss das Schirmgehäuse vollständig geschlossen und leer sein. Außerdem können die genormten Schirmdämpfungsmessverfahren nur in einer Absorberhalle durchgeführt werden. Eine Nachprüfung vor Ort ist deshalb nicht möglich.
Bei dem vorgestellten neuen Messverfahren der Partiellen-Schirmungs-Analyse wird aus lokalen induzierten Strömen in der Schirmhülle auf die Schirmwirkung an diesen Stellen geschlossen. Diese Stellen bzw. Teile der Schirmhülle, wie z.B. Dichtungen an Übergängen, können daher ganz unabhängig von den übrigen Komponenten der Schirmhülle analysiert werden. Das Gehäuse muss also nicht vollständig und verschlossen sein. Es spielt auch keine Rolle, ob es leer oder mit Elektronikkomponenten bestückt ist. Es ist also eine einfache Nachprüfung von vollständigen Geräten auch am Einsatzort möglich.
Reihe/Serie | Berichte aus der Hochfrequenztechnik |
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Sprache | deutsch |
Maße | 148 x 210 mm |
Gewicht | 213 g |
Einbandart | Paperback |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Schlagworte | Dichtungen • Dichtungsübergänge • Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • lokale Ströme • Schirmdämpfung • Schirmhülle |
ISBN-10 | 3-8322-8760-4 / 3832287604 |
ISBN-13 | 978-3-8322-8760-3 / 9783832287603 |
Zustand | Neuware |
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