Transmission Electron Microscopy - Ludwig Reimer

Transmission Electron Microscopy

Physics of Image Formation and Microanalysis

Ludwig Reimer (Autor)

P. W. Hawkes (Herausgeber)

XVI, 584 Seiten
1997 | 4., ed.
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-62568-1 (ISBN)
69,50 inkl. MwSt
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Transmissionselektromikroskopie ist eine wichtige Technik in der Biologie und der modernen Technologie. Die vorliegende Monographie beschreibt die Prinzipien der Teilchen- und Wellenoptik der Elektronen und die Wechselwirkung zwischen Elektronen und zu untersuchender Materie. Behandelt werden sowohl die Streuung und der Phasenkontrast als auch die kinematische und dynamische Theorie der Elektronenbeugung. Analytische Verfahren der Röntgenstrahl-Mikroanalyse und die Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie werden detailliert dargestellt.Transmission Electron Microscopy presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of particle- and wave-optics of electrons are de scribed. Electron-specimen interactionsare discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also analysed are the kinematic and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure determination and imaging of lattices and their defects. X-ray microanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. The third edition includes a brief discussion of Schottky emission guns, some clarification of minor details, and references to the recent literature.

This text presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of particle and wave optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also discussed are the kinematic and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure analysis and imaging of lattices and their defects. X-ray micronanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. This fourth edition includes discussions of recent progress, especially in the area of Schottky emission guns, convergent-beam electron diffraction, electron tomography, holography and the high resolution of crystal lattices.
Zusatzinfo 263 figs.
Sprache englisch
Gewicht 1025 g
Einbandart gebunden
Schlagworte Elektronenmikroskopie
ISBN-10 3-540-62568-2 / 3540625682
ISBN-13 978-3-540-62568-1 / 9783540625681
Zustand Neuware
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