Testverfahren in der Mikroelektronik
Methoden und Werkzeuge
Seiten
1997
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-61728-0 (ISBN)
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978-3-540-61728-0 (ISBN)
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In diesem Buch werden die folgenden Themen behandelt:
B
Einführung und Abgrenzung
Fehlermodelle
Testmusterberechnung
Fehlersimulation
Testbarkeitsanalyse
Testfreundlicher Entwurf
Selbsttest integrierter Schaltungen.
S
B
Einführung und Abgrenzung
Fehlermodelle
Testmusterberechnung
Fehlersimulation
Testbarkeitsanalyse
Testfreundlicher Entwurf
Selbsttest integrierter Schaltungen.
S
| Reihe/Serie | Mikroelektronik |
|---|---|
| Zusatzinfo | 139 Abb., 27 Tab. |
| Gewicht | 462 g |
| Einbandart | gebunden |
| Schlagworte | Fehlererkennung • Fehlererkennung / Troubleshooting • Mikroelektronik |
| ISBN-10 | 3-540-61728-0 / 3540617280 |
| ISBN-13 | 978-3-540-61728-0 / 9783540617280 |
| Zustand | Neuware |
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