Electron Microscopy and Multiscale Modeling

An International Conference
Buch | Hardcover
308 Seiten
2008
American Institute of Physics (Verlag)
978-0-7354-0519-6 (ISBN)

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The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.
Erscheint lt. Verlag 29.4.2008
Reihe/Serie Progress in Molecular and Subcellular Biology / Marine Molecular Biotechnology ; 999
Zusatzinfo Illustrations
Verlagsort New York
Sprache englisch
Maße 162 x 234 mm
Einbandart gebunden
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Atom- / Kern- / Molekularphysik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Plasmaphysik
ISBN-10 0-7354-0519-0 / 0735405190
ISBN-13 978-0-7354-0519-6 / 9780735405196
Zustand Neuware
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