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12th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis
Institute of Physics Publishing (Verlag)
978-83-00-02589-3 (ISBN)
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Plenary session (4 papers). Quantitative analysis (27 papers). X-ray microscopy and microanalysis (15 papers). Surface analysis - scanning electron microscopy (8 papers). Surface analysis - auger electron spectroscopy (13 papers). Secondary ion emission microscopy and microanalysis (5 papers). Instrumentation - electron optics (5 papers). Instrumentation - x-ray spectroscopy (15 papers). New microanalytical techniques (7 papers). Volume 2: Transmission electron microscopy (4 papers). Electron energy loss spectroscopy (6 papers). Scanning transmission electron microscopy (3 papers). Image analysis (11 papers). Applications to biology (14 papers). Application to materials (36 papers). Applications to ceramics and radioactive samples (10 papers). Application to minerals (9 papers). Applications to semiconductors (14 papers). Author index.
Erscheint lt. Verlag | 1.10.1990 |
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Verlagsort | London |
Sprache | englisch |
Maße | 156 x 235 mm |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Optik |
Technik | |
ISBN-10 | 83-00-02589-8 / 8300025898 |
ISBN-13 | 978-83-00-02589-3 / 9788300025893 |
Zustand | Neuware |
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