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Formation Testing – Low Mobility Pressure Transient Analysis

W Chin (Autor)

Software / Digital Media
320 Seiten
2015
John Wiley & Sons Inc (Hersteller)
978-1-118-92598-0 (ISBN)
193,38 inkl. MwSt
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Erscheint lt. Verlag 13.11.2015
Verlagsort New York
Sprache englisch
Maße 150 x 250 mm
Gewicht 666 g
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie
ISBN-10 1-118-92598-X / 111892598X
ISBN-13 978-1-118-92598-0 / 9781118925980
Zustand Neuware
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