Für diesen Artikel ist leider kein Bild verfügbar.

Resistivity Modeling – Propagation, Laterolog and Micro–Pad Analysis

W Chin (Autor)

Software / Digital Media
320 Seiten
2016
John Wiley & Sons Inc (Hersteller)
978-1-118-92603-1 (ISBN)
193,38 inkl. MwSt
  • Keine Verlagsinformationen verfügbar
  • Artikel merken
Erscheint lt. Verlag 18.10.2016
Verlagsort New York
Sprache englisch
Maße 150 x 250 mm
Gewicht 666 g
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie
ISBN-10 1-118-92603-X / 111892603X
ISBN-13 978-1-118-92603-1 / 9781118926031
Zustand Neuware
Haben Sie eine Frage zum Produkt?
Mehr entdecken
aus dem Bereich