Advances in Imaging and Electron Physics

Advances in Imaging and Electron Physics (eBook)

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2020 | 1. Auflage
282 Seiten
Elsevier Science (Verlag)
978-0-12-821002-4 (ISBN)
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Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 215, merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains. - Contains contributions from leading authorities on the subject matter - Informs and updates on the latest developments in the field of imaging and electron physics - Provides practitioners interested in microscopy, optics, image processing, mathematical morphology, electromagnetic fields, electrons and ion emission with a valuable resource - Features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 215, merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains. - Contains contributions from leading authorities on the subject matter- Informs and updates on the latest developments in the field of imaging and electron physics- Provides practitioners interested in microscopy, optics, image processing, mathematical morphology, electromagnetic fields, electrons and ion emission with a valuable resource- Features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing
Erscheint lt. Verlag 29.7.2020
Mitarbeit Herausgeber (Serie): Peter W. Hawkes, Martin Hytch
Sprache englisch
Themenwelt Mathematik / Informatik Informatik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Elektrodynamik
Technik Bauwesen
Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Technik Maschinenbau
ISBN-10 0-12-821002-8 / 0128210028
ISBN-13 978-0-12-821002-4 / 9780128210024
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