Quantum Metrology, Imaging, and Communication (eBook)

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2016 | 1st ed. 2017
XII, 273 Seiten
Springer International Publishing (Verlag)
978-3-319-46551-7 (ISBN)

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Quantum Metrology, Imaging, and Communication - David S. Simon, Gregg Jaeger, Alexander V. Sergienko
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This book describes the experimental and theoretical bases for the development of specifically quantum-mechanical approaches to metrology, imaging, and communication. In particular, it presents novel techniques developed over the last two decades and explicates them both theoretically and by reference to experiments which demonstrate their principles in practice. The particular techniques explored include two-photon interferometry, two-photon optical aberration and dispersion cancellation, lithography, microscopy, and cryptography.

David Simon. Professor, Stonehill College, Easton MA 02357, USA 
Gregg Jaeger, Professor, Boston University, Boston MA 02215, USA
Alexander V. Sergienko, Boston University, Boston MA 02215, USA

David Simon. Professor, Stonehill College, Easton MA 02357, USA Gregg Jaeger, Professor, Boston University, Boston MA 02215, USA Alexander V. Sergienko, Boston University, Boston MA 02215, USA

Quantum Optics and Entanglement.- Two-Photon Interference- Aberration and Dispersion Cancelation.- Quantum Metrology.- Polarization Mode Dispersion.- Ghost Imaging and Related Topics.- Quantum Microscopy.- Correlated and Entangled Orbital Angular Momentum.- Quantum Communication and Cryptography.- Appendices A: Review of Optics.- B: Optical Fields in Quantum Mechanics.- C: Optical Effects of Aberration and Turbulence.- D: Phase Matching in Spontaneous Parametric Down Conversion.- E: Vectorial Scattering Analysis of the Twin-Photon Microscope.

Erscheint lt. Verlag 2.11.2016
Reihe/Serie Quantum Science and Technology
Quantum Science and Technology
Zusatzinfo XII, 273 p. 105 illus., 68 illus. in color.
Verlagsort Cham
Sprache englisch
Themenwelt Mathematik / Informatik Informatik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Theoretische Physik
Technik
Schlagworte Applied Quantum Optics • Dispersion Cancellation • Experimental Optics • Ghost Imaging • Introdution to Quantum Optics • Quantum Imaging • Quantum Lithography • Quantum Microscopy • Quantum Optical Cryptography • Quantum Optical Metrology
ISBN-10 3-319-46551-1 / 3319465511
ISBN-13 978-3-319-46551-7 / 9783319465517
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