Thin Films for Advanced Electronic Devices (eBook)
336 Seiten
Elsevier Science (Verlag)
978-1-4832-8890-1 (ISBN)
In this volume of the highly esteemed Physics of Thin Films serial, focused coverage is given to new trends in solid state devices. Four chapters combine to provide comprehensive discussions of magnetostatic wave phenomena in epitaxial magnetic oxide films and their applications in microwave signal processing devices: Thin-film rare earth transition metal alloys for magnetooptic recording. Two new classes of quantum well structures that have been used for infrared detectors and ultrafast resonant tunneling devices. Recent applications of Fourier transform spectroscopy for the analysis of inorganic thin solid films. This book provides a focused treatment of recent developments in novel thin film solid state components, and specifically discusses magnetic, semiconducting, and optical phenomena.
Front Cover 1
Thin Films for Advanced Electronic Devices: Advances in Research and Development
4
Copyright Page 5
Table of Contents 6
Contributors 10
Preface 12
Chapter 1.Magnetostatic Waves 14
I. Introduction 15
II. Magnetic Materials for Magnetostatic Waves 20
III. Magnetostatic Propagation and Generation 38
IV. Applications of Magnetostatic Wave Devices1 65
V. Linear Devices 83
VI. Nonlinear Devices 105
VII. Magneto-optic Interactions and Devices 115
VIII. Conclusions 137
Acknowledgments 138
Appendix A. Infinite Magnetic Medium 138
Appendix B. Magnetic Anisotropy and Surface Waves 142
Appendix C. Calculation from Surface Permeability 145
Appendix D. Thickness Modes and Boundary Conditions 147
References 149
Chapter 2. Thin-Film Rare Earth-Transition Metal Alloys forMagnetooptic Recording 155
I. Introduction 155
II. Materials Preparation and Properties 159
III. Magnetic and Magnetooptic Properties 186
IV. Application to Magnetooptic Recording 212
V. Summary 225
References 226
Chapter 3. New Quantum Structures 230
I. Introduction and Background 230
II. Electronic States in Quantum Wells and Superlattices 232
III. Intersubband Transitions, Infrared Absorption,and Infrared Detection 240
IV. Resonant Tunneling and Device Applications 255
V. Trends and Possibilities 269
Acknowledgments 271
References 271
Chapter 4. Fourier Transform Infrared Analysis of Thin Films 276
I. Introduction 276
II. Theory of Infrared Absorption 277
III. Instrumentation 280
IV. Applications to Thin Film Analysis—Specific Systems 288
V. Summary 320
References 320
Author Index 324
Subject Index 335
Erscheint lt. Verlag | 22.10.2013 |
---|---|
Mitarbeit |
Herausgeber (Serie): John L. Vossen |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik | |
Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
Technik ► Maschinenbau | |
ISBN-10 | 1-4832-8890-0 / 1483288900 |
ISBN-13 | 978-1-4832-8890-1 / 9781483288901 |
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Größe: 33,2 MB
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