Magnetic Microscopy of Layered Structures

Buch | Hardcover
XI, 246 Seiten
2014 | 2015
Springer Berlin (Verlag)
978-3-662-44531-0 (ISBN)
106,99 inkl. MwSt
This book presents the important analytical technique of magnetic microscopy. This method is applied to analyze layered structures with high resolution. This book presents a number of layer-resolving magnetic imaging techniques that have evolved recently. Many exciting new developments in magnetism rely on the ability to independently control the magnetization in two or more magnetic layers in micro- or nanostructures. This in turn requires techniques with the appropriate spatial resolution and magnetic sensitivity. The book begins with an introductory overview, explains then the principles of the various techniques and gives guidance to their use. Selected examples demonstrate the specific strengths of each method. Thus the book is a valuable resource for all scientists and practitioners investigating and applying magnetic layered structures.

Peter Fischer, Jahrgang 1952, studierter Sekundarlehrer phil. II (Uni Zürich) und Informatik-Ingenieur (Hochschule Technik und Architektur Luzern). Fischer ist heute Dozent für Informatik an der Fachhochschule Zentralschweiz. Seine Leidenschaften Datentechnik, Schreiben und Unterrichten hat er in unzähligen Publikationen wie z.B. Fachartikeln und Lehr- wie Fachbüchern zur Informatik und Mathematik vereint. Der Autor hat in der Schweiz schon in den 80er Jahren den Informatik-Unterricht an der Volksschul-Oberstufe vorangetrieben und für diese Stufe erste interkantonale Lehrmittel verfasst. Seit 1986 profitieren Zehntausende von Leserinnen und Lesern von seinen fachlich-fundierten wie leicht nachvollziehbaren Publikationen.

Photoelectron Emission Microscopy Using X-Ray Circular Magnetic Dichroism.- Imaging Antiferromagnetic Domains by Photoelectron Emission Microscopy.- Transmission X-Ray Microscopy for the Element-Resolved Imaging of Magnetic Domains.- Layer-Sensitive Magneto-Optical Kerr Effect Microscopy.

Erscheint lt. Verlag 17.11.2014
Reihe/Serie Springer Series in Surface Sciences
Zusatzinfo XI, 246 p. 112 illus., 6 illus. in color.
Verlagsort Berlin
Sprache englisch
Maße 155 x 235 mm
Gewicht 508 g
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Atom- / Kern- / Molekularphysik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Elektrodynamik
Schlagworte Layered structures • Magnetic domain imaging • Magnetic thin films and multilayers • Micromagnetism • Microscopy
ISBN-10 3-662-44531-X / 366244531X
ISBN-13 978-3-662-44531-0 / 9783662445310
Zustand Neuware
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