Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
Springer Berlin (Verlag)
978-3-642-49481-9 (ISBN)
Eröffnungs-Ansprache.- Opening remarks.- Festvortrag.- Geschichte des Elektrons.- A. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren.- 1. Kathoden.- 2. Linsen und Ablenksysteme.- 3. Objekteinrichtungen.- 4. Bildaufzeichnungsverfahren.- 5. Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze).- 6. Stereoaufnahme.- 7. Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung.- 8. Durchstrahlungsmikroskope.- 9. Reflexions- und Emissionsmikroskopie.- 10. Interferenzmikroskopie und Interferometrie.- 11. Röntgen-Projektionsmikroskopie.- 12. Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie.- 13. Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen.- B. Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild.- 1. Streuung am Objekt und Bildkontrast.- 2. Abbildung von Kristallgitter-Perioden.- 3. Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moirés.- C. Elektronenmikroskopische Präparationstechnik.- 1. Trägerfolien.- 2. Dünne Objektschichten.- 3. Oberflächen.- 4. Aufdampf- und Abdruckverfahren.- D. Ergebnisse der Elektronenmikroskopie in der Technologie (Kristallographie, Metallographie, Chemie).- 1. Kristallgitter-Strukturen.- 2. Kristallwachstum.- 3. Kristalloberflächen.- 4. Kondensierte Schichten.- 5. Kristallbau-Fehler und Versetzungen.- 6. Umwandlungs- und Ausscheidungsvorgänge in Metallen.- 7. Natürliche und künstliche technologische Fasern.- 8. Verschiedene Produkte der chemischen Technik.- 9. Staube und Rauche.- 10. Spuren-Nachweis.- E. Feldemissionsmikroskopie*.- 1. Feldelektronen-Mikroskopie von Metalloberflächen.- 2. Adsorptionsuntersuchungen an Feldkathoden.- 3. Feldionen-Mikroskopie.
Erscheint lt. Verlag | 1.1.1960 |
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Zusatzinfo | 851 S. 1304 Abb., 2 Abb. in Farbe. |
Verlagsort | Berlin |
Sprache | deutsch |
Maße | 210 x 279 mm |
Gewicht | 2104 g |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Allgemeines / Lexika |
Schlagworte | Atom • Beugung • Elektron • Elektronen • Elektronenmikroskopie • Felder • Kristallographie • Kristallstruktur • Mikroskopie • Molekül • Reflexion • Reibung • Röntgenstrahlen • Strahlung • Wellen |
ISBN-10 | 3-642-49481-1 / 3642494811 |
ISBN-13 | 978-3-642-49481-9 / 9783642494819 |
Zustand | Neuware |
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