This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
* Contributions from leading international scholars and industry experts
* Discusses hot topic areas and presents current and future research trends
* Invaluable reference and guide for physicists, engineers and mathematicians
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. Contributions from leading international scholars and industry experts Discusses hot topic areas and presents current and future research trends Invaluable reference and guide for physicists, engineers and mathematicians
Front Cover 1
Advances in Imaging and Electron Physics 4
Copyright Page 5
Contents 6
Preface 10
Contributors 12
Future Contributions 14
Chapter 1: Magnetolithography: From theBottom-Up Route to HighThroughput 18
1. Introduction 18
2. The Magnetolithography Method 22
3. Patterning of Non-Flat Surfaces 31
4. Summary and Future Perspective 39
Acknowledgments 42
References 42
Chapter 2: The Optics of Spatial Coherence Wavelets 46
1. Introduction 47
2. Basic Concepts and Mathematical Formalism 51
3. Interference and Diffraction with Scalar Wavelets 84
4. Tensor Wavelets and Electromagnetic Fields 162
Acknowledgments 267
References 267
Chapter 3: Common Diffraction Integral Calculation Based on a Fast Fourier Transform Algorithm 274
1. Introduction 275
2. Relation Between Discrete Fourier Transform and Fourier Transform 278
3. Fast Fourier Transform of Fresnel Diffraction 283
4. Numerical Integration of Classic Diffraction 298
5. The Collins Formula and Its Inverse Operation 309
6. Discussion and Conclusion 318
References 318
Chapter 4: A Generalized Approach to Describe the Interference Contrast and the Phase Contrast Method 320
1. Introduction 320
2. The Interferometric Phase Contrast 326
3. General Perspective of the Phase Contrast Method 333
4. Conclusion 341
References 343
Chapter 5: Nonlinear Partial Differential Equations for Noise Problems 346
1. Introduction 346
2. Noises and Filters 347
3. Methods Based on Nonlinear Partial Differential Equations 349
4. Relation of Functionals 357
Acknowledgment 359
References 359
Chapter 6: Harmuth Corrigenda 362
1. Introduction 363
Contents of Volumes 151-163 378
Index 384
| Erscheint lt. Verlag | 2.11.2010 |
|---|---|
| Mitarbeit |
Herausgeber (Serie): Peter W. Hawkes |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Angewandte Physik |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Elektrodynamik | |
| Technik ► Bauwesen | |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| Technik ► Maschinenbau | |
| ISBN-10 | 0-12-381313-1 / 0123813131 |
| ISBN-13 | 978-0-12-381313-8 / 9780123813138 |
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