Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS IV.
Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
1984
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-13316-2 (ISBN)
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-13316-2 (ISBN)
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| Zusatzinfo | 415 figs. XV,503 pages. |
|---|---|
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | englisch |
| Gewicht | 945 g |
| Einbandart | gebunden |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik | |
| ISBN-10 | 3-540-13316-X / 354013316X |
| ISBN-13 | 978-3-540-13316-2 / 9783540133162 |
| Zustand | Neuware |
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