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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III.

Proceedings of the Third International Conference. Technical University, Budapest, Hungary, August 30 - September 5, 1981
1982
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-11372-0 (ISBN)
64,55 inkl. MwSt
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Zusatzinfo 289 figs. XI,444 pages.
Verlagsort Berlin
Sprache englisch
Gewicht 890 g
Einbandart Leinen
Themenwelt Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Festkörperphysik
ISBN-10 3-540-11372-X / 354011372X
ISBN-13 978-3-540-11372-0 / 9783540113720
Zustand Neuware
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